Książki autorstwa Patrick Echlin

Znaleziono 1 – 8 z 8 pozycji

1. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Dostępna u dostawcy w małych ilościach - Wysyłamy za 10 - 15 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   121.82 €

   Kup książkę
2. 

   Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Dostępna u dostawcy w małych ilościach - Wysyłamy za 10 - 15 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   121.82 €

   Kup książkę
3. 

   Low-Temperature Microscopy and Analysis

   Patrick Echlin | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Dostępna u dostawcy w małych ilościach - Wysyłamy za 10 - 15 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   241.93 €

   Kup książkę
4. 

   Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Patrick Echlin | Springer-Verlag New York Inc., 2009

   
   

   Dostępna u dostawcy w małych ilościach - Wysyłamy za 10 - 15 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Twarda

   176.40 €

   Kup książkę
5. 

   Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Patrick Echlin | Springer-Verlag New York Inc., 2010

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 8 - 10 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   152.66 €

   Rabat 2 %

   Oszczędzasz 4.28 €

   Kup książkę
6. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer, Berlin, 2011

   
   

   Dostępna u dostawcy w małych ilościach - Wysyłamy za 10 - 15 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   121.82 €

   Kup książkę
7. 

   Low-Temperature Microscopy and Analysis

   Patrick Echlin | Springer Science+Business Media, 1992

   
   

   Dostępna u dostawcy w małych ilościach - Wysyłamy za 10 - 15 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Twarda

   241.93 €

   Kup książkę
8. 

   Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy | Springer Science+Business Media

   
   

   50 % szansa - Przeszukamy cały świat

   Język: Angielski

   Oprawa: Twarda

   190.80 €

   Rabat 0 %

   Oszczędzasz 0.06 €

   Kup książkę

Za drobną opłatą książki zapakujemy na prezent. Zobacz więcej